手持式鍍層測(cè)厚儀涂層厚度的測(cè)量要領(lǐng)首要有楔切法涂層測(cè)量、光截法涂層測(cè)量、電解法涂層測(cè)量、厚度差測(cè)量法、稱重法涂層測(cè)量、χ射線熒光法涂層測(cè)量、β射線逆向散射法涂層測(cè)量、電容法涂層測(cè)量、磁性測(cè)量法和渦電流測(cè)量法測(cè)量厚度等。這些個(gè)要領(lǐng)中前五種是有損檢測(cè),測(cè)量手段繁瑣,速率慢,多適用于取樣檢驗(yàn)。手持式鍍層測(cè)厚儀向微型、智能、多功效、高精度、實(shí)用化的方向進(jìn)了一大步。測(cè)量的分辯率已達(dá)1微米,精度可達(dá)1%,有了大幅度的提高。手持式鍍層測(cè)厚儀適用規(guī)模廣、量程寬、操作簡(jiǎn)便且價(jià)廉,是工業(yè)和科研使用zui廣泛的涂層測(cè)厚儀器。
　　探頭與導(dǎo)磁鋼材之間的吸力大小與處在這兩者之間的間隔成是比例關(guān)系。這個(gè)間隔就是涂層的厚度。根據(jù)這一道理制成手持式鍍層測(cè)厚儀,只要涂層與基體的導(dǎo)磁率之間足夠大,就可舉行涂層測(cè)量。鑒于大部分?jǐn)?shù)工業(yè)品采用布局鋼和熱軋冷軋鋼板沖壓成型,所以磁性手持式鍍層測(cè)厚儀應(yīng)用zui廣。涂層測(cè)厚儀基本布局由磁鋼,接力簧,標(biāo)尺及自動(dòng)停機(jī)構(gòu)構(gòu)成。磁鋼與被測(cè)物吸合后,將測(cè)量簧在其后逐漸拉長(zhǎng),拉力逐漸增大。當(dāng)拉力恰好大于魔力,磁鋼脫離的一剎時(shí)記錄下拉力的大小即可獲得涂層厚度。這種儀器的特點(diǎn)是操作簡(jiǎn)便、堅(jiān)固不容易用壞、不消電源,測(cè)量前無(wú)須校準(zhǔn),價(jià)格比力低,很適合廠房做現(xiàn)場(chǎng)質(zhì)量控制。
　　影響手持式鍍層測(cè)厚儀測(cè)量的若干因素。磁性法測(cè)量厚度受基體金屬性變化的影響(在實(shí)際應(yīng)用中,低碳鋼磁性的變化可認(rèn)為是輕細(xì)的),為了避免熱處置懲罰和冷加工因素的影響,應(yīng)使用與試件基體金屬具備相同性質(zhì)的規(guī)范片對(duì)儀器舉行校準(zhǔn);基體金屬的電導(dǎo)率對(duì)測(cè)量有影響,而基體金屬的電導(dǎo)率與其質(zhì)料成份及熱處置懲罰要領(lǐng)涉及。使用與試件基體金屬具備相同性質(zhì)的規(guī)范片對(duì)儀器舉行校準(zhǔn);每種儀器都有一個(gè)臨界厚度,大于這個(gè)厚度,測(cè)量就不受基體金屬厚度的影響;對(duì)試件外貌形狀的陡變敏銳,因此在接近試件邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處舉行測(cè)量是不可靠的;試件的曲率對(duì)測(cè)量有影響,隨著曲率半徑的減少較著地增大,因此,在彎曲試件的外貌上測(cè)量也是不可靠的;探頭會(huì)使軟涂層試件變形,因此在這些個(gè)試件上測(cè)不出可靠的數(shù)值;基體金屬和涂層的外貌粗拙度對(duì)測(cè)量有影響。粗拙度增大,影響增大,粗拙外貌會(huì)引起系統(tǒng)偏差和間或偏差,每次測(cè)量時(shí),在不同的位置上應(yīng)增長(zhǎng)測(cè)量的回?cái)?shù),以降服這種間或偏差。